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和伍超聲掃描顯微鏡 設(shè)備整機尺寸750mm（長）×700mm（寬）×1350mm（高）。安裝方案基于空間占用最小化和維護/服務(wù)條件需要，保證在設(shè)備周圍留有500mm的空間，可以方便工作人員進行操作、維護。

和伍水浸超聲掃描顯微鏡 超聲掃描顯微鏡（SAT）是一種利用超聲波為傳播媒介的無損檢測成像設(shè)備，主要利用高頻超聲波，對各類半導體器件、材料進行檢測，能夠檢測出樣品內(nèi)部的氣孔、裂紋、夾雜和分層等缺陷，并以圖形的方式直觀展示。在掃描過程中，不會對樣品造成損傷，不會影響樣品性能，可有效滿足新能源、半導體、電力電子、熱管理材料、金剛石復合材料、碳纖維復合材料等行業(yè)需求。

日本電子熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡 適用于納米材料、化學、新材料、半導體器件的觀察和分析。

日本電子掃描電鏡 日本JEOL掃描電子顯微鏡JSM-IT200 InTouchScope JSM-IT200 InTouchScope™ 是一款更簡潔、更易于使用且性價比高的掃描電子顯微鏡。

日本電子掃描電子顯微鏡 JCM-700強大的“Zeromag“功能，讓您從光學顯微鏡的觀察方式，輕松的無縫接軌到掃描電鏡的影像觀察。“Live Analysis“則實現(xiàn)了SEM影像觀察時實時的EDS成份分析。

掃描探針顯微鏡（SPM）是在樣品表面用微小的探針進行掃描，通過高倍率觀察三維形貌和局部物理特性的顯微鏡總稱。懸臂和樣品始終保持接觸，控制懸臂與樣品之間的相互作用保持一定狀態(tài)下，掃描樣品表面的模式。這是Z典型的AFM模式，可以得到目前Z高分辨率圖像。懸臂在諧振頻率附近震動。在懸臂震動的狀態(tài)下懸臂接近樣品時振幅會發(fā)生變化。